Caractérisation des surfaces

Afin d'évaluer la morphologie de surface d'un échantillon, deux instruments sont disponibles. Le microscope à force atomique (AFM) permet une caractérisation détaillée de l'ordre du nanomètre en x, y et z. Les mesures étant prises ligne par ligne à un taux maximal de 1Hz, l'AFM est généralement utilisé pour des images de quelques microns. Pour une cartographie complète d'un échantillon macroscopique, le profilomètre optique 3D est recommandé. Bien que les résolutions en x et y soient contraintes par les limites de diffraction optique et une résolution interférentielle en z de quelques nanomètres, le profilomètre permet l'acquisition d'images macroscopiques pouvant atteindre quelques centimètres en quelques minutes.