Rayons X

Le microtomographe Skyscan 1172 de la compagnie Bruker permet l’étude d’échantillons et de matériaux de diverses natures (biomédical, géologique, poreux, mousse, polymère, composite, etc.) dont le but est d’obtenir de l’information sur sa morphologie interne.

Le diffractomètre X’Pert Pro MPD de la compagnie Panalytical permet l’étude et l’identification des phases cristallines contenues dans un échantillon.

Le XPS Axis UltraDLD de la compagnie Kratos permet l’analyse semi-quantitative de tous matériaux secs et solides avec une limite de détection d’environ 0.1 % atomique. En mode haute résolution, il est aussi possible d’identifier l’état chimique des atomes à la surface.

Le spectromètre Axios Advanced de la compagnie Panalytical est un spectromètre à analyse dispersive en longueur d’onde (WD-XRF) qui permet de déduire la composition élémentaire ainsi que les concentrations massiques des éléments.