Microscope à force atomique AFM Park System NX20
Description
Microscope à force atomique pour l’automatisation des mesures de rugosité et de topographie de surface
Marque et modèle
Park Systems NX20
Spécifications techniques
- Porte-échantillon de 200 mm
- Mouvements X, Y et rotation motorisés
- Grandeur maximum d’image 100 um x 100 um
- Mesure maximale en Z de 15µm
- Logiciel : SmartScan
- Logiciel : Park XEA pour l’automatisation
Procédés disponibles
- Contact mode
- Tapping modeImage topographique et de phase
True Non-contact mode
PinPoint nanomechanical mode
