Caractérisation électrique des matériaux sans contact Freiberg Instruments GmbH MDPspot
Description
Caractérisation sans contact et non-destructive des propriétés électriques des matériaux.
Marque et modèle
Freiberg Instruments GmbH MDPspot
Specifications techniques
- Géométrie des échantillons : morceaux 5mm x 5mm, gaufres, briques.
- Épaisseur : de 100µm à 156mm
- Matériaux : silicium n et p, de 0.1 Ωcm à 1000 Ωcm
- Pulses laser : 20 ns - 20 ms
Procédés disponibles
- Mesure de la durée de vie des porteurs minoritaires par le biais de la méthode de la photoconductivité détectée par micro-ondes (MDP) ou par la décroissance de la photoconductivité détectée par micro-ondes (µPCD)
- Mesure de la photoconductivité
- Détection des défauts/impuretés dans les matériaux
- Évaluation de l’homogénéité de la passivation
- Le système peut effectuer des mesures ponctuelles mais il est possible de faire une cartographie manuellement avec une précision limitée
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