Diffractomètre-X Haute résolution Rigaku Smartlab

Description 

Appareil à rayon-X multi-usage (Diffraction, Dispersion, Réflexion)

Marque et modèle

Rigaku - Smartlab

Spécifications techniques

• Source-X Cuivre 2.2kW, point focal 0.4mm x 12mm
• Détecteur 2D grande surface HyPix 3000
• Échantillons jusqu'à 200mm de diamètre : plateau horizontal, permettant plusieurs formats d'échantillons.

Axes 

• Goniomètre haute résolution (Theta, 2-Theta, step 0.0001°)
• Berceau Eulerien (Z, chi, phi)
• Axe dans-le-plan (2-theta-chi + phi)
• Correctifs de planéité ±5° (Rx, Ry)
• Mouvement latéral ±50mm (X, Y)

Conditionnement de faisceau incident 

• Monochromateur 2x Ge(220) (32 arcsec)
• Monochromateur 4x Ge(220) (12 arcsec)
• Faisceau divergent (Bragg-Brentano)
• Faisceau parallèle (miroir rayons-X)
• Fentes de soller
• Fentes simples
• Collimateurs

Conditionnement de faisceau diffracté 

• Analyseur 2x Ge(220) pour mesures triple-axe
• Filtre K-beta
• Fentes
• Atténuateurs
• Procédés disponibles

Procédés disponibles

• XRD Poudre
• XRD polycristaux
• XRD monocristaux
• XRR réflectivité X
• HRXRD monocristaux (triple axe)
• RSM cartographie d'espace réciproque
• GIXRD
• 2D-GISAXS / WAXS
• In-Plane Diffraction
• Texture / Pole Figure
• Cartographie X-Y complète (<= 100mm diam.) ou partielle (jusqu'à 150mm diam.)
• Analyse de données :
  • XRD poudres
  • XRD solides
  • XRR
  • HRXRD / RSM
  • SAXS
  • Texture
  • Crystallography Open Database (COD)
  • Visualisation de données multi-dimensionnelles