GMC760 - Nanocaractérisation des semiconducteurs
Présentation
Sommaire
- Cycle
- 2e cycle
- Crédits
- 1 crédit
- Faculté ou centre
- Faculté de génie
- Trimestres *
- Automne 2024
Cible(s) de formation
Se familiariser avec les méthodes de caractérisation des matériaux utilisés en micro-ingénierie, afin de permettre une sélection éclairée dans le cadre d'un projet de recherche. Développer une approche critique et utilitaire de la caractérisation des semiconducteurs. Élargir ses connaissances fonctionnelles d'un maximum de techniques de caractérisation.
Contenu
Théorie des matériaux cristallins. Mesures optiques : photoluminescence, interférométrie, ellipsométrie, diffusion Raman, diffraction des rayons-X, mesures optiques de surface. Mesures par faisceaux de particules chargées : microscopie électronique, diffractions des électrons, faisceaux d'ions.
* Sujet à changement